㈜신코 반도체 사업부에서 새롭게 공급하게 된 미국 N&K Technology 社의 OCD Metrology System을 소개합니다. (OCD: Optical Critical Dimension)
 
 

Demonstrate (approximately) the measurement capabilities of the UV-Vis-IR (Olympian) and UV-Vis-NIR systems (EclipSE-CD, OptiPrime-CD, LittleFoot-CD, Gemini-CD) for trench array and contact hole array measurements

이와 같이 N&K의 시스템은 타의 추종을 불허하는 뛰어난 특정 기능과 다양한 박막 및 구조에 대한 분석을 구현할 수 있어 여러 분야에 적용 되고 있으며 세계 유수의 반도체업체에서도 그 가치와 성능을 인정 받고 있습니다.

장비 구매문의/서비스문의 : 신코 반도체사업부 ( sed@scinco.com / 02-2143-8232 )