보다 진보된 XRF Microscope, 2가지 진공모드 지원, 투과 X- ray Mapping 지원
XGT-9000는 진보된 XRF Microscope 로써 2가지 진공모드를 사용하여 고정밀 분석이 가능하고 넗은 샘플챔버 적용으로 크기가 큰 샘플분석에 용이하다. Mapping 분석 (원소 분포 측정) 과 투과 X-ray Mapping이 가능하여, 눈으로 보이지 않는 샘플내부구조 해석이 가능하다.
• Measurement Elements : Na(11)~U(92) • Beam Size : 10, 50, 100, 400um, 1.2mm • Visible Magnification : 2 ~ 100 X • Transmission X-ray image is available. • Thickness measurement • Sample Chamber atmosphere : Vacuum(2mode)/Air • Maximum sample size : 300 x 250 x 40mm • Stage movable range : 100 x 200 x 20mm • Mapping size : 100 x 100mm
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