1. 최대 780 nm 까지 측정 가능 함
2. Embedded NetProfiler를 통해 기기의 성능을 확인할 수 있고, 측정 조건을 최적화 할 수 있음
3. 반사율 및 투과율 측정이 가능 하고, 다양한 액세서리 지원을 통해 여러 형태의 샘플 측정이 가능함
4. 형광증백 시료 측정을 위한 정확한 UV Calibration 이 가능함
5. Trigger Button을 이용한 측정이 가능함
6. 투과 용 고체 시료의 로딩을 위한 Lase Targeting 이 가능함
7. 온도 및 습도 센서를 통한 주변 환경 모니터링이 가능함
8. SCI/ SCE 동시 측정이 가능함

Specifications
 - Measuring Geometry : Tri-beam d/8°
 - Reflectance Aperture : 2, 17, 10, 6 mm
 - Total Transmittance Apertures : 22, 17,19, 6 mm
 - Spectral Range : 360 ~ 780 nm
 - Spectral Interval : 10 nm
 - Measurement Range : 0 ~200% Reflectance
 - Inter-Instrument Agreement : 0.08 CIE L*a*b* Avg.
 - Short-Term Repeatability : 0.01 RMS △E*ab
 - Embedded Netprofiler
 - Data Interface : USB