[ 용    도 ]
High Definition Technology를 기반으로 한 DCC Optic를 이용하여 Background 제거 및 X-선을 Focus 해 줌으로써 Intensity를 높여 줌으로써 기존 EDXRF 대비 탁월한 Detection Limit를 제공하는 Trace Metal Analysis in Hydrocarbons 분석 장비이다.

[ 원리 및 이론 ]
X-선 튜브에서 나오는 X-선을 DCC Optic를 이용하여 Background 제거 및 Intensity를 강화하여 시료내의 수 ppm농도의   Trace Metal을 정성, 정량 분석을 한다.

[ 응용분야 ]
  - Petroleum
  - Environmental

[ 주요특징 ]
  - Multi-element analysis
  - Exceptional detection performance for critical elements
  - No sample preparation
  - No acid digestion required
  - Results in less than 10 minutes
  - Lab and production applications

[ 제품사양 ]