지난 2월 19일 2010년 두번째 FT-IR Workshop이  신코 서울본사에서 개최되었다.

기존 User분들을 모시고 FT-IR 이론에서부터 Software교육, Sampling Technique까지 전반적인 IR 교육을 실시하여  User분들께 IR 사용에 있어서 많은 도움을드리고자 하였으며, 특히 OMNIC Software의 기본 기능에 대한 설명 뿐만 아니라정량분석이 가능한 TQ Analyst, Multi-Component Search가 가능한 Specta 등에 대한 시간도 가짐으로써 많은 User분들이 관심을 가지는 시간이 되었다.
또한 마지막 시간에는 Q & A 시간을 가지며 그동안 궁금했던 사항들에 대해 문제를 해결하고, Sample Test를 통해 더 많은 지식을 습득할 수 있는 좋은시간이 되었다. 

*이번 세미나에 참석해 주신 User 분들께 감사드리며, 다음 세미나는 4월 경에 대전지사에서 개최할 예정이니 많은 참석 부탁드립니다.