현재 휴대폰 관련 산업분야에서의 각 제조 협력업체들은 생산 및 제조 과정에서의 엄격한 품질 관리를 통해 제품 불량 사례를 방지하기 위해 첨단 검사 장비를 이용, 제품의 검사 및 분석을 하고 있다. 이를 위해 다양한 검사 및 분석 장비를 이용하고 있으며, 이러한 정밀 검사, 분석 장비를 통한 품질 관리 절차를 진행함으로써 더욱 신뢰성 높은 제품 생산 관리를 이루어 내고 있다.

이러한 현실 상황에서 신기술 휴대폰 제품에 따른 새로운 분석기기를 관련 기업에 발맞춰 제공하기 힘든 것도 또한 현실이기도 하다.

그러나 ㈜신코는 직접 고객 Needs에 의한, 필요 요구에 충족된 검사, 측정 장비를 해당 기업과 같이 개발하게 되었으며 이에 현장 맞춤형의 3G 휴대폰 윈도우-패널 근접 센서와 조도센서부의 미세 부분의 투과율을 측정할 수 있는 분광광도계인 VMS-1을 소개하도록 한다.

Main System Model : VMS-1 Parallel Beam-path Beam Size : Dia. 1mm ~   Microscope Thickness : 0.1mm~2mm icon sheet or Glass sheet, solid Films