오늘날Dispersive Raman Spectroscopy는 다양한 분야의 혼합물에 대해 분석할 수 있는 분석기기이며 여러 산업에서 유용하게 사용되어지고 있다. Dispersive Raman Spectroscopy는 무기물 분석을 위해 사용되어지는 Method중 하나인 Far-IR 측정 분석에 있어서 Sample Preparation이 필요 없어 유리하게 사용 되어 질 수 있다. 게다가 1-um Laser Spot Size를 가지므로 특별한 Spatial Resolution이 필요한 경우 이상적이다. 이에DXR Raman Microscope는 High Quality Optics, High Precision Stage 그리고 OMNIC Software로 구성된 하나의 Full-Featured Instrument이며Point-and Shoot 기능을 제공하므로 초보자도 특별한 작업 없이 Raman Microscope의 모든 기능을 사용 할 수 있다. Raman Mapping은 다양한 형태의 Sample 에 대한 Chemical 분포도 정보를 제공할 수 있다. 예를 들면, 약화학 분야에 있어서 Tablet Mapping은 Component 분포와 Particle Size에 대한 유용한 정보를 제공하며 또한 Raman Microscope는 Polymer, Paper, Glasses등 다양한 Sample들의 Micron Size의 Detect 검사에 사용되어진다. 이 Application Note는 Geological Sample 분석에 있어서 Raman Mappling 기능을 설명하며 이는 다른 많은 Sample에 적용될 수 있다.

분석한 샘플은 Canada, Ontario, Thunder Bay의 Amethyst Mine Panorama에서 온 자수정 샘플이다. 육안으로 확인해 보면 Non-Fractured 표면은 갈색물질이고 Freshly-Fractured 표면은 전형적인 자수정 색인 자줏빛을 나타낸다. 분석하기 위해 Sample은 Microscope Slide에 장착되고 DXR Raman Microscope, Multi-Well Plate와 OMNIC Array Software를 사용하여 자동으로 Multiple Sample 측정이 가능해 진다.

50배 배율에서 Sample의 Brightfield Illumination 이미지는 Figure2와 같이 다양한 샘플 표면을 보여주고 DXR Raman에서 Darkfield Illumination으로 바꾸어 샘플 이미지를 확인하면 Figure3과 같이 다른 표면구조에 대해 확인 할 수 있다.
또한 Figure4와 같이 Darkfield Image의 Mosaic은 표면특징의 분포를 보여준다.